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光學和光學儀器環(huán)境太陽輻射試驗方法

文章出處：責任編輯：氙燈試驗箱廠家發(fā)表時間：2015-03-30

1、主題內容與適用范圍

本標準規(guī)定了太陽輻射試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。

本標準適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。

2、試驗目的

研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學等特性受到太陽輻射影響的變化程度。

3、引用標準

GB 12085.1 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法術語、試驗范圍

GB 2424.14 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程太陽輻射試驗馬則。

4 試驗條件

4.1輻射源應安裝在能在試樣表面上或按有關標準規(guī)定的平面內產生輻照度(窒〉內，輻射源的光譜能量分布按表1 ，表1 中的數(shù)據(jù)不包括從箱壁上反射出的紅外線輻射。

4.2 試驗期間產生的臭氧必須從試驗箱(室)中排除。

4.3 在有關標準中應規(guī)定試樣安裝的方法和位置、安裝、支架的要求，測量暴露區(qū)域內輻射和溫度的測試點的位置。

5、條件試驗

條件試驗方法20: 太陽輻射

條件試驗方法20太陽輻射的嚴酷等級按表2。

6、試驗程序

預處理除有關標準中另有規(guī)定外，試樣表面在暴露前應用中性潔潔劑進行清洗。

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